Национальным  центром интеллектуальной собственности БелГИМ был выдан Патент № 13174 "Эталон единицы длины в нанометровом диапазоне измерений"

Национальный эталон предназначен:

- для воспроизведения, хранения и передачи размера единицы длины в нанометровом диапазоне рабочим средствам измерений, применяемым в различных отраслях машиностроения и приборостроения с целью обеспечения единства измерений в Республике Беларусь;

- для поверки и калибровки эталонных мер высоты ступени и ширины шага, предназначенных для метрологической оценки микроскопов измерительных атомно-силовых и растровых электронных.

- для проведения исследований и измерений толщины тонких пленок методом спектральной эллипсометрии.

Кроме вышеназванного патента, БелГИМ является правообладателем еще более 20 патентов на объекты интеллектуальной собственности.