Национальным центром интеллектуальной собственности БелГИМ был выдан Патент № 13174 "Эталон единицы длины в нанометровом диапазоне измерений"
Национальный эталон предназначен:
- для воспроизведения, хранения и передачи размера единицы длины в нанометровом диапазоне рабочим средствам измерений, применяемым в различных отраслях машиностроения и приборостроения с целью обеспечения единства измерений в Республике Беларусь;
- для поверки и калибровки эталонных мер высоты ступени и ширины шага, предназначенных для метрологической оценки микроскопов измерительных атомно-силовых и растровых электронных.
- для проведения исследований и измерений толщины тонких пленок методом спектральной эллипсометрии.
Кроме вышеназванного патента, БелГИМ является правообладателем еще более 20 патентов на объекты интеллектуальной собственности.